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电子硬盘设计

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3.2 方案2简介
方案2包括硬盘控制器SST55LD019A,闪速存储器芯片K9F5608U0B(32M*8bit,2片),供电部分300mA CMOS 线性稳压器AME8800,44pin标准IDE接口。
硬盘控制器使用的是SST公司生产的SST55LD019A,它使用100pin的TQFP封装,具有低功耗(工作电压3.3v-5v)、主机读取速度快(最快可达10M/s)、稳定性好(可在-40℃~85的工业环境下稳定运行)、兼容性好(支持PIO Mode-4、Multi-word DMA Mode-2两种最新的传输模式,兼容标准NAND型Flash Memory)等优点。
SST55LD019A主要包括微处理器单元(MCU)、内部直接存储器接入(DMA)、电源管理单元(PMU)、SRAM缓冲器、嵌入式闪存文件系统、纠错编码(ECC)、串行通信接口(SCI)和多任务接口。
              微处理器单元(MCU):微处理器单元把ATA/IDE信号转换成闪存芯片所需的数据和控制信号。
              内部直接存储器接入(DMA):ATA闪存盘控制器使用内部DMA允许常用数据从缓冲区转移到闪存芯片。这种执行方式可以减少微处理器使用传统的、基于固件的连接方式,从而增加了数据转移的速率。
              电源管理单元(PMU):电源管理单元控制ATA闪存盘控制器的电源消耗,它通过使没有工作的电路部分进入休眠状态,极大地降低了闪存盘控制器的电源消耗。
              SRAM缓冲器对ATA闪存盘控制器的正常运行发挥了重大作用,它优化了主机和闪存芯片之间的数据转移。
              嵌入式闪存文件系统是ATA闪存盘控制器的一个集成部分。它包括了实现以下操作的MCU固件:
a.转换主机信号以便对闪存芯片进行读写。
b.通过把对闪存芯片的写入扩展到所有未被使用的地址空间,从而极大地降低了闪存芯片的损耗程度并增加芯片的使用寿命。
c.维护数据文件的结构路径。
d.管理被选择的保护区域的系统安全性。
              纠错编码(ECC):ATA闪存盘控制器利用72bit的Reed-Solomon错误检测码纠错编码,这两种编码提供了每个512字节数据块对以下错误的免疫性:
a.3个随机12bit的符号错误(可修正)。
b.25bit的单突变码错误(可修正)。
c.61bit的单突变码错误和15bit的双突变码错误(可检测)。
d.6个随机12bit的符号错误(可检测)。
        串行通信接口(SCI):串行通信接口被设计为使用户能够重新启动
初始化过程和定制驱动识别信息。
       多任务接口:多任务接口通过允许并发读取、编程和擦除操作来成倍增加闪存设备,实现快速、持续的写入操作[16]
SST55LD019A的功能结构框图如图3-5所示:

 

 

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